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壓敏電阻常見的失效狀態(tài)

發(fā)布:管理員    日期:2022/4/12    閱讀:  次

壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看,可分為三種常見的失效狀態(tài):劣化、炸裂和穿孔:

①劣化:實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降直至為零。

②炸裂:壓敏電阻器在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,十分明顯。

③穿孔:壓敏電阻器陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿,即為穿孔狀態(tài)。

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